CÔNG TY TNHH THƯƠNG MẠI VÀ ĐẦU TƯ T&N CÔNG TY TNHH THƯƠNG MẠI VÀ ĐẦU TƯ T&N

HN: 0982 028 728

HCM: 0905 653 866

search-icon.png

Tiếng Việt Tiếng Anh
  • Kính hiển vi điện tử quét (SEM) - JSM-IT210 - JEOL

  • JSM-IT210
  • JEOL
  • Japan
  • 736
  • JSM-IT210 là kính hiển vi điện tử quét thế hê mới nhất JEOL. Được phát triển để điều khiển bằng động cơ cho tất cả năm trục chuyển động, giúp sử dụng an toàn hơn và nhanh hơn. Ngoài ra, JSM-IT210 được trang bị sẽ tự động thu được quan sát và phân tích bằng cách chọn trường quan sát. JSM-IT210 là một SEM thế hệ mới nhỏ gọn và có thể vận hành mà không cần giám sát.

JSM-IT210 Scanning Electron Microscope

Tính năng

Chương trình hướng dẫn từ thao tác đưa mẫu đến việc quan sát tự động "Specimen Exchange Navi"

1. Thực hiện theo chức năng NAVI để đặt mẫu cần đo

2. Chuẩn bị quan sát trong quá trình hút chân không

Searching for a field of view is easy! View inside the chamber

3. Bắt đầu quan sát một cách tự động

Phóng to ảnh quang học chuyển qua ảnh SEM với chức năng "Zeromag"

Chức năng Zeromag đơn giản hóa việc điều hướng, cung cấp quá trình chuyển đổi liền mạch từ hình ảnh quang học* sang hình ảnh SEM.
SEM, hình ảnh quang học và đồ họa giá đỡ đều được liên kết để có cái nhìn tổng thể về các vị trí phân tích.

Đầu đo EDS cho phép quan sát thành phần nguyên tốc phân bố tên mẫu theo thời gian thực * "Live Analysis"

Live Analysis là một chức năng hiển thị phổ EDS hoặc bản đồ thành phần trong Thời gian thực trong quá trình quan sát hình ảnh. Chức năng này có thể hỗ trợ tìm kiếm và cung cấp cảnh báo cho các phần tử mục tiêu.

Tự động hóa để nâng cao hiệu suất "Simple SEM"

Simple SEM tự động hóa việc thu thập hình ảnh ở nhiều vị trí, điều kiện và độ phóng đại.

Step 1 Select observation conditions, Step 2 Set target fields, Start automatic collection!

Tools for speed

Stage with high position accuracy. Relocate analysis positions with accuracy.

Đầu do EDS 60 mm2 EDS
Giúp phân tích nhanh hơn

Phân tích nhanh hơn

Đầu dò 60 mm2 EDS có thể đạt được chất lượng tương tự trong thời gian ngắn hơn nhiều so với các máy dò diện tích nhỏ hơn. Phân tích đa điểm cũng có thể được thực hiện hiệu quả hơn.

10 mm2 EDS: Measurement time 60 seconds60mm2 EDS: Measurement time 10 seconds

Ứng dụng cho các mẫu nhạy cảm với nhiệt

10mm2 EDS

60 mm2 EDS

Fast, clear element maps

 

Backscattered electron image

Multi-color overlay display

Chi tiết tham khảo tại: https://www.jeol.com/products/scientific/sem/JSM-IT210.php 

Sản phẩm cùng loại

0982028728 0905653866
FACEBOOK
zalo
0905653866 0982028728