- Trang chủ
- Giới thiệu
-
Sản phẩm
-
Phân tích quang phổ tia X
-
Quang phổ nhiễu xạ tia X (XRD)
-
Quang phổ nhiễu xạ tia X đơn tinh thể (SC-XRD)
-
Quang phổ huỳnh quang tia X (XRF)
-
Kính hiển vi huỳnh quang tia X (µXRF)
-
Quang phổ huỳnh quang tia X phản xạ toàn phần (T-XRF)
-
Quang phổ huỳnh quang tia X cầm tay (HH-XRF)
-
Micro-CT cho Khoa học Vật liệu
-
Micro-CT cho Khoa học Sự sống
-
Quang phổ nhiễu xạ tia X (XRD)
- Kính hiển vi điện tử (SEM/ FE-SEM/ TEM)
-
Thiết bị Phân tích nhiệt (Thermal Analysis)
-
Thiết bị đo hệ số giãn nở nhiệt (DIL)
-
Thiết bị phân tích nhiệt quét vi sai (DSC)
-
Thiết bị phân tích nhiệt trọng trường (TGA)
-
Thiết bị phân tích nhiệt đồng thời (STA hay TG/DSC/DTA)
-
Thiết bị đo các hệ số vật lý (Hiệu ứng Hall, Hệ số Seebeck, Điện trở)
-
Thiết bị đo độ dẫn nhiệt ( TIM/ LFA/ TFA / HFM/ THB)
-
Thiết bị phân tích cơ nhiệt học (TMA)
-
Thiết bị đo hệ số giãn nở nhiệt (DIL)
- Kính hiển vi nguyên tử lực (AFM)
- Phân tích cộng hưởng từ
- Thiết bị phân tích điện hóa đa năng
- Tủ thao tác cách ly vô trùng (Glove box)
-
Thiết bị chụp ảnh động vật sống thời gian thực
- Thiết bị phân tích EPMA/ Auger/ XPS
- Thiết bị ứng dụng chùm tia Ion (CP/ FIB)
- Chuẩn bị mẫu XRF
- Công nghệ Nano - Màng mỏng
- Quang phổ kế
- Chuẩn bị & xử lý mẫu cơ bản
- Phân tích nhiệt trị
-
Phản ứng áp suất cao
- Mô hình thiết bị thí nghiệm giảng dạy và đào tạo
- Thiết bị đo độ cứng
- Vật tư tiêu hao, phụ kiện
-
Phân tích quang phổ tia X
-
Hãng đại diện
- BRUKER AXS
- BRUKER BIOSPIN
- BRUKER NANO
- JEOL
- LINSEIS
- MBRAUN
- PARK SYSTEMS
- PARR INSTRUMENTS
- XRF SCIENTIFIC
- DADA KOREA
- BIOLOGIC
- EDIBON
- EYELA
- CAD INSTRUMENTS
- CENTRION
- BAREISS
- HERMLE
- CLEAVER
- GATAN
- HOSOKAWA ALPINE
- FLUXANA
- JASCO
- DAIHAN LABTECH
- HAVER & BOECKER
- LABPLANT
- NABERTHERM
- LAURELL TECHNOLOGIES CORPORATION
- OAI
- OXFORD
- PIKETECHNOLOGIES
- SONICS
- VILBERLOURMAT
- AJA INTERNATIONAL
- ALP
- ALTAMIRA
- Nippon Papper Group
- COSMO
- SICHUAN NITROCELL
- SANHUAN PIGMENT
- Giải pháp
- Hóa chất
- Tin tức
- Webinar
- Liên hệ
