Kính hiển vi điện tử quét phát xạ trường điện tử (FE-SEM) - JSM-IT800/JEOL

 - Dòng sản phẩm kính hiển vi điện tử quét (SEM) dễ dàng sử dụng và có khả năng mở rộng.
 - Phần mềm tích hợp tính năng điều khiển cảm ứng đa chạm giúp việc vận hành hiệu quả và thân thiện với người sử dụng
 - Buồng mẫu lớn và chính tâm (eucentric) giúp điều khiển mẫu dễ dàng khi làm việc với các mẫu vật lớn hay với cả các phòng thí nghiệm có lượng mẫu lớn.
 - Hệ quang điện tử cao cấp kết hợp với đầu đo độ nhạy cao khiến dòng sản phẩm này là sự lựa chọn lý tưởng để quan sát nhiều loại mẫu vật khác nhau.
 - Kính có 2 chế độ: Chân không thấp và chân không cao.
   + Ở chế độ chân không cao: có thể chụp ảnh tốt các mẫu vật dẫn điện. Đối với các mẫu vật không dẫn điện, để chụp ảnh mẫu vật cần phải được phủ lớp dẫn mỏng hoặc chụp với thế gia tốc thấp (bước thế có thể điều chỉnh từ 0,5-30kv).
  + Ở chế độ chân không thấp: có thể chụp các mẫu vật không dẫn điện mà không cần lớp phủ.
 - Việc chuyển đổi giữa hai chế độ chân không thấp và chân không cao được thực hiện dễ dàng nhờ giao diện đồ họa người dùng hoặc bảng điều khiển chính.
 - Màn hình sử dụng công nghệ đa chạm (multi-touch).
 - Tích hợp chức năng thao tác nhanh: có camera quan sát trong buồng mẫu, được tích hợp công nghệ chuyển đổi hình ảnh và thao tác đo mẫu trực quan từ ảnh thực sang ảnh điện tử quét.
 - Tích hợp công nghệ phân tích liên tục đồng thời hình ảnh SEM với detector EDS thuận tiện cho việc khảo sát khu vực cần phân tích và tăng độ chính xác cho kỹ thuật phân tích.
 - Có chức năng ghi hình quá trình đo mẫu và điều kiện đo để mô phỏng phân tích sau.
 - Có chức năng lưu liên tục kết quả đo mẫu cho phép sử dụng và phân tích lại.