Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) - XE7/PARK SYSTEMS
Sự lựa chọn kinh tế cho nghiên cứu sáng tạo
Park XE7 có tất cả công nghệ hiện đại mà bạn mong đợi từ Park Systems, với mức giá mà phòng thí nghiệm của bạn có thể mua được. Được thiết kế với sự chú ý đến từng chi tiết giống như các model cao cấp hơn của Park Systems, XE7 cho phép bạn thực hiện nghiên cứu của mình đúng lúc và trong phạm vi ngân sách.
Park XE7 Specifications
XY Scanner
Single-module flexure XY scanner with closed-loop control
Scan range : 100μm x 100μm
50μm x 50μm
10μm x 10μm
Manual Stage
XY travel range : 13 × 13 mm
Z travel range : 29.5 mm
Focus travel range : 70 mm
Z Scanner range
Guided high-force Z scanner
Scan range : 12 µm
15 µm
Sample Mount
Sample size : Up to 100 mm
Thickness : Up to 20 mm
Vision
Direct on-axis vision of sample surface and cantilever
Coupled with 10× objective lens (20× optional)
Field-of-view : 480 × 360 µm
CCD : 1 Mpixel
Software
XEP
Dedicated system control and data acquisition software
Adjusting feedback parameters in real time
Script-level control through external programs (optional)
XEI
AFM data analysis software
Electronics
High performance DSP : 600 MHz with 4800 MIPS
Maximum 16 data images
Maximum data size : 4096 × 4096 pixels
Signal inputs : 20 channels of 16 bit ADC at 500 kHz samplings
Signal outputs : 21 channels of 16 bit DAC at 500 kHz settling
Synchronous signal : End-of-image, end-of-line, and end-of-pixel TTL signals
Active Q control (optional)
Cantilever spring constant calibration (optional)
CE Compliant
Power : 120 W
Signal Access Module (Optional)