Kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM) - JEM-1400Flash - JEOL

Kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM) - JEM-1400Flash - JEOL

  • JEM-1400Flash
  • JEOL
  • Japan
  • JEM-1400 Flash là thế hệ mới nhất tiếp theo của TEM 120 KV với các đặc điểm ưu việt hơn về hệ thống, bệ mẫu, các thấu kính quang học và vẫn duy trì các tính năng ưu việt của dòng TEM 120 KV JEM-1400 Flash là thế hệ mới nhất tiếp theo của TEM 120 KV với các đặc điểm ưu việt hơn về hệ thống, bệ mẫu, các thấu kính quang học và vẫn duy trì các tính năng ưu việt của dòng TEM 120 KV
  • Danh mục:
  • 1522
  • Giới thiệu
  • Thông số kỹ thuật
  • Ứng dụng và tiêu chuẩn
  • video
  • Tài liệu

 - Polepiece độ tương phản cao thế hệ mới, được phát triển dựa trên polepice độ tương phản siêu cao đóng vai trò như hệ thấu kính quang học.
 - Giao diện đồ họa (GUI) được lập trình trên phiên bản mới nhất của Windows, là công cụ hữu hiệu cho việc điều khiển TEM. 
  + Giao diện: điều khiển đồng thời TEM và các EDS, thông mạng LAN để xử lý dữ liệu, hình ảnh, lập báo cáo
 + 2 Giao diện cho người sử dụng và cho người quản lý.
  - JEM 1400 với chức năng hướng dẫn đồ họa để hỗ trợ người mới làm quen với việc sử dụng thiết bị, đồng thời cũng hữu ích đối với người có kinh nghiệm khi tiến hành với các chức năng mới.
 - Bệ đưa mẫu nằm bên cạnh, điều khiển hoàn toàn tự động tất cả các trục, dễ dàng sử dụng trên toàn dải phóng đại, chống lệch khi bệ mẫu nghiêng .
 - Thay đổi vị trí mẫu được thực hiện qua cảm nhận trực giác, sử dụng track-ball. 
 - Hoàn toàn điều khiển bằng máy tính 
 - Màn hình hiển thị LCD tiết kiệm diện tích, tự động hiển thị các thông tin cần thiết khi sử dụng.
 - Có chức năng thiết lập cá nhân cho phép tạo các thông số điều khiển khác nhau cho mỗi người sử dụng
 - Ổ đĩa mềm để ghi lưu các thông tin cá nhân
 - Có thể đọc file cá nhân và điều khiển ngoài thông qua mạng Ethernet
 - Có khả năng mở rộng, nâng cấp khi ghép nối với đầu thu tín hiệu điện tử quét truyền qua (STEM), hệ phân tích phổ tán xạ năng lượng (EDS) hay hệ phân tích phổ tán xạ bước sóng.. . (cho phép phân tích các thành phần nguyên tố cấu thành chất được quan sát) - là tính năng nâng cao cần thiết khi nghiên cứu vật liệu (Nano, topography..)   

 

Hệ thống kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM)
Thông số kỹ thuật
Độ phân giải: 0.2 nm
Thế gia tốc:  cực đại 120 kV
 - Bước: 40, 60, 80, 100, 120 kV
 - Độ phóng đại: x 800,000 
 - Chế độ MAG: x800 đến x 800,000 


 

JEM 1400 Plus là một công cụ nghiên cứu mạnh và hiện đại trong nghiên cứu về
 - Cấu trúc vật rắn
 - Được sử dụng rộng rãi trong vật lý chất rắn
 - khoa học vật liệu
 - Công nghệ nano
 - Hóa học
 - Sinh học
 - Y học...

Sản phẩm cùng loại

Kính hiển vi điện tử quét độ phân giải cao - JSM-IT710HR

Model: JSM-IT710HR

Hãng sản xuất: JEOL

Xuất xứ: Japan

Đọc thêm

Kính hiển vi điện tử quét (SEM) - JSM-IT210 - JEOL

Model: JSM-IT210

Hãng sản xuất: JEOL

Xuất xứ: Japan

Đọc thêm

Kính hiển vi điện tử quét để bàn (SEM) - JCM-7000/ JEOL

Model: JCM-7000

Hãng sản xuất: JEOL

Xuất xứ: Japan

Đọc thêm

Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) - NX10/PARK SYSTEMS

Model: NX10

Hãng sản xuất: PARK SYSTEMS

Xuất xứ: Korea

Đọc thêm

Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) - XE7/PARK SYSTEMS

Model: XE7

Hãng sản xuất: PARK SYSTEMS

Xuất xứ: Korea

Đọc thêm

Kính hiển vi điện tử quét (SEM) - JSM-IT200 - JEOL

Model: JSM-IT200

Hãng sản xuất: JEOL

Xuất xứ: Japan

Đọc thêm
Zalo
favebook