Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) - NX10/PARK SYSTEMS

Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) - NX10/PARK SYSTEMS

  • NX10
  • PARK SYSTEMS
  • Korea
  • Danh mục:
  • 1443
  • Giới thiệu
  • Thông số kỹ thuật
  • Ứng dụng và tiêu chuẩn
  • video
  • Tài liệu

Con đường nhanh nhất để nghiên cứu sáng tạo
Park NX10 tạo ra dữ liệu mà bạn có thể tin tưởng, tái tạo và công bố ở độ phân giải nano cao nhất. Từ cài đặt mẫu cho đến chụp ảnh, đo lường và phân tích toàn bộ, Park NX10 giúp bạn tiết kiệm thời gian trong từng bước. Với nhiều thời gian hơn và dữ liệu tốt hơn, bạn có thể tập trung vào việc nghiên cứu sáng tạo hơn.

Z Scanner:

   + Guided high-force flexure scanner
   + Scan range : 15 µm (optional 30 µm)
   + Resolution : 0.015 nm
   + Position detector noise : 0.03 nm (bandwidth: 1 kHz)
   + Resonant frequency : > 9 kHz (typically 10.5 kHz)

XY Scanner

   + Single module flexure XY-scanner with closed-loop control
   + 50 µm × 50 µm (optional 10 µm × 10 µm or 100 µm × 100 µm)
   + Resolution : 0.05 nm
   + Position detector noise : < 0.25 nm (bandwidth: 1 kHz)
   + Out-of-plane motion : < 2 nm (over 40 µm scan)

Stage

   + Z stage range : 25 mm
   + Focus travel range : 15 mm
   + XY stage travel range : 20 mm x 20 mm
   + Sample size : Open space up to 100 mm x 100 mm, thickness up to 20 mm
   + Sample weight : < 500 g

Vision

   + 10x (0.21NA) ultra-long working distance lens (1µm resolution)
   + 20x (0.42 NA) high-resolution, long working distance lens (0.6 µm resolution)
   + Direct on-axis vision of sample surface and cantilever
   + Field-of-view : 480 × 360 µm (with 10× objective lens)
   + CCD : 1 Mpixel, 5 Mpixel (optional)

Life Science

Materials

Electrical & Electronics

Nanotechnology

Sản phẩm cùng loại
Zalo
favebook